Краткие сообщения

Масс-спектрометр для анализа вторичных ионов

С. П. Карецкая, В. М. Кельман, Д. К. Даукеев, С. И. Касымов, А. Г. Мить, Н. Ю. Сайченко, Г. А. Шевелев

Институт ядерной физики АН КазССР, Алма-Ата

УДК: 621.384.8

Поступила в редакцию: 21.02.1984

Реферативные базы данных:

•