Краткие сообщения

Влияние толщины образцов на пороги хрупкого разрушения полупроводниковых ковалентных кристаллов при облучении импульсными пучками электронов

А. П. Балашов, Л. Н. Когай, И. Я. Кравченко, C. Б. Селезнев, Е. Ф. Уваров


УДК: 539.3

Поступила в редакцию: 10.01.1984
Исправленный вариант: 10.01.1985

Реферативные базы данных:

•