RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 1984, том 54, выпуск 3, страницы 558–564 (Mi jtf1708)

Квантовая электроника

Дисперсия изменения молекулярной рефракции и дифракционная эффективность объемных голографических решеток в полимерах реоксан

А. Ф. Кавтрев, Е. Н. Бодунов, Г. И. Лашков


Аннотация: Работа посвящена теоретическому и экспериментальному исследованию спектральной зависимости в диапазоне 0.44$-$1.6 мкм изменения молекулярной рефракции $\Delta n_{0}(\lambda)$ происходящего при фотоокислении антраценовых соединений. Предложен простой экспериментальный метод измерения $\Delta n_{0}(\lambda)$, основанный на анализе спектральной зависимости дифракционной эффективности объемных фазовых решеток, зарегистрированных в светочувствительной среде реоксан. Продемонстрировано удовлетворительное совпадение измеренных величин $\Delta n_{0}(\lambda)$ и рассчитанных по формуле Крамерса–Кронинга. На основании полученных результатов даны рекомендации по записи высокоэффективных голографических элементов на материале реоксан.

УДК: 778.38 : 541.14 : 535.338

Поступила в редакцию: 06.06.1983



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024