О тонкой структуре максимума дифракции света на объемной голограмме в Bi$_{12}$SiO$_{20}$

Теоретически и экспериментально проанализированы аномальные селективные свойства объемных фазовых голограмм в двупреломляющих фоторефрактивных кристаллах типа LiNbO$_{3}$, а также тонкая структура брэгговского максимума в кубических, оптически активных кристаллах Bi$_{12}$SiO$_{20}$. Указанные особенности должны учитываться при исследовании механизмов записи в фоторефрактивных кристаллах. Кроме того, они могут быть использованы при разработке новых дисперсионных голографических элементов.