Ионно-оптические характеристики симметричных секторных магнитных анализаторов с неоднородным полем и нормальными круговыми границами

Симметричные секторные магнитные анализаторы с неоднородным полем и нормальными границами обнаруживают неплохие ионно-оптические свойства — вместе с высокой дисперсией и сильной аксиальной фокусировкой такие анализаторы позволяют осуществить коррекцию основных аберраций изображения. При прямолинейных границах и профиле полюсных наконечников имеется возможность скорректировать сферическую аберрацию. Введение кривизны границ или профиля позволяет вместе со сферической аберрацией устранить искривление линии изображения. Дальнейшее улучшение ионно-оптических характеристик достигается за счет формирования пучка по вертикали в источнике ионов. Приведен ряд оптимальных ионно-оптических схем. В Приложении даны компактные выражения для ионно-оптических коэффициентов второго порядка.