Аннотация:
Сообщается о возможности улучшения параметров
мощных быстродействующих Si приборов, заключающейся в том, что
$\gamma$-облученные Si $p{-}n$ переходы подвергаются режиму
термообработки, в результате которой радиационный дефект, вызывающий рост
генерационного тока, отжигается, а концентрация РД, контролирующего время
жизни носителей, остается без изменения.