RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 1983, том 53, выпуск 9, страницы 1827–1829 (Mi jtf2550)

Особенности исследования солнечных элементов в растровом оптическом микроскопе

С. А. Беляев, А. С. Даревский, В. С. Королев, В. Б. Митюхляев


Аннотация: Рассмотрены два режима регистрации сигнала в растровом оптическом микроскопе: режим фотоэдс и режим фототока. Показано, что для объектов, имеющих большую собственную емкость, таких как солнечные элементы, более информативным является метод регистрации фототока. Описано устройство, позволяющее реализовать этот режим. Возможности метода проиллюстрированы на примере солнечного элемента.



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024