Спектральные распределения параметрического рентгеновского излучения ультрарелятивистских электронов в кристалле кремния

Впервые измерены спектральные характеристики параметрического рентгеновского излучения электронов с энергией от 200 до 900 МэВ в кристалле кремния. Измерения проводились для (110) и (111) кристаллографических плоскостей под углом ${\theta=19^{\circ}}$ к пучку электронов. Получены энергетические зависимости выхода параметрического излучения в коллимированный детектор; обнаружен эффект расщепления спектральных линий; показано, что угловая ширина первого рефлекса излучения значительно превышает угловые ширины последующих рефлексов.