RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 1988, том 58, выпуск 4, страницы 811–816 (Mi jtf2832)

Влияние аппаратурных условий на параметры однофононных резонансов, обусловленных двукратным рассеянием нейтронов

И. Л. Ждахин, В. И. Бобровский, Б. Н. Гощицкий, Ю. Н. Михайлов


Аннотация: Исследуется влияние вариации параметров разрешения нейтронного спектрометра на величину двукратных вкладов в однофононные нейтронные пики. Ранее в ряде экспериментальных работ было установлено, что такие вклады могут быть значительными. В качестве модельных систем использовались фононы в ГЦК — металлах: свинце и сплаве Fe$_{72}$Ni$_{22}$Mn$_{6}$. Результаты численных расчетов показали, что величина двукратных вкладов сильно варьируется в разных веществах и для разных фононов и существенно зависит от разрешения прибора. При этом влияние вертикальных параметров разрешения принципиально отличается для одно- и двукратных неупругих пиков. Этот эффект может быть использован для экспериментального выявления двукратных вкладов.



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024