RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 1989, том 59, выпуск 8, страницы 106–107 (Mi jtf3457)

Краткие сообщения

Использование особенностей в угловых распределениях вторичных электронов для повышения чувствительности количественного анализа в электронной оже-спектроскопии

А. П. Казанцев




Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024