RUS
ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ
// Журнал технической физики
// Архив
ЖТФ,
1989
, том 59,
выпуск 8,
страницы
106–107
(Mi jtf3457)
Краткие сообщения
Использование особенностей в угловых распределениях вторичных электронов для повышения чувствительности количественного анализа в электронной оже-спектроскопии
А. П. Казанцев
Полный текст:
PDF файл (278 kB)
Реферативные базы данных:
©
МИАН
, 2024