RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 1990, том 60, выпуск 9, страницы 43–50 (Mi jtf3979)

Оптика, квантовая электроника

Измерение перемещений и деформаций методом четырехэкспозиционной спекл-фотографии

В. П. Щепинов, Н. Г. Власов, С. А. Новиков


Аннотация: Рассматривается методика регистрации двух полей перемещений на одной спекл-фотографии, основанная на попарной корреляции четырех спекл-структур изображения поверхности деформируемого тела. Для разделения информации о перемещениях и получения требуемой декорреляции спекл-структур предлагается использовать две круговые или круговую и кольцевую опертуры. Анализируется контраст интерференционных полос, наблюдаемый при поточечном сканировании нерасширенным лазерным пучком четырехкратно экспонированной спекл-фотографии.
Приводятся примеры применения метода четырехэкспозиционной спекл-фотографии для определения направления перемещения и измерения линейной деформации при растяжении (сжатии) и изгибе.



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024