RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 1986, том 56, выпуск 10, страницы 2013–2015 (Mi jtf407)

Краткие сообщения

Применение однодлинноволновой интерферометрии для определения температуры и плотности компонент частично поглощающих плазменных образований

А. П. Бурмаков, А. В. Колесник, В. Б. Михайлов

Научно-исследовательский институт прикладных физических проблем им. А. Н. Севченко при Белорусском государственном университете им. В. И. Ленина

УДК: 1533.9.082.5

Поступила в редакцию: 29.05.1985
Исправленный вариант: 10.11.1985



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025