О возможности количественных измерений состава твердых тел методом масс-спектрометрического анализа вторичных отрицательных ионов

А. Х. Аюханов, М. К. Абдуллаева, Э. Турмашев

Институт электроники им. У. А. Арифова АН УзССР, Ташкент

УДК: 537.534.8

Поступила в редакцию: 04.06.1985
Исправленный вариант: 10.04.1986

Реферативные базы данных:

•