Диффузия кислорода в La$_{0.8}$Sr$_{0.2}$MnO$_{3-\delta}$ пленках разной толщины на NdGaO$_{3}$-подложках

Представлены результаты исследования косвенным методом вариации кислородного содержания в серии эпитаксиальных La$_{0.8}$Sr$_{0.2}$MnO$_{3-\delta}$-пленок на монокристаллических подложках NdGaO$_{3}$. Путем численного моделирования установлено, что в условиях “сжимающих” механических напряжений, вызванных рассогласованием плоскостных кристаллических параметров материалов пленки и подложки, величина коэффициента диффузии кислорода существенно снижается по толщине пленки в направлении от внешней поверхности к интерфейсу пленка–подложка. В пленках толщиной $d\approx$ 12–75 nm эффект проявляется в том, что величина коэффициента диффузии в окрестности внешней поверхности пленок также существенно убывает по мере уменьшения толщины пленок. Обсуждаются вопросы применимости косвенного метода для оценки кислородного содержания в тонких эпитаксиальных пленках на подложках с малым несоответствием кристаллических параметров, а также другие проявления эффектов, вызванных механическими напряжениями.