RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2021, том 91, выпуск 10, страницы 1454–1465 (Mi jtf4913)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

XXV Международный симпозиум Нанофизика и наноэлектроника, Н. Новгород, 9--12 марта 2021 г.
Твердое тело

Особенности деформирования круглых тонкопленочных мембран и экспериментальное определение их эффективных характеристик

А. А. Дедковаa, П. Ю. Глаголевa, Е. Э. Гусевa, Н. А. Дюжевa, В. Ю. Киреевa, С. А. Лычевb, Д. А. Товарновa

a Национальный исследовательский университет "МИЭТ"
b Институт проблем механики им. А. Ю. Ишлинского Российской академии наук, г. Москва

Аннотация: Рассмотрены особенности тонкопленочных мембран, сформированных над круглыми отверстиями в кремниевых подложках с помощью Бош-процесса травления. Из-за напряженного состояния исходных пленок мембраны имеют сложную форму. Для расчета механических характеристик мембраны посредством анализа зависимости прогиба мембраны $w$ от поданного на нее избыточного давления $P$ необходимо определение непосредственно на мембране: ее диаметра, толщин составляющих ее слоев, изменения рельефа поверхности мембраны по всей ее площади по мере увеличения давления $P$. На примере $p$-Si$^{*}$/SiN$_{x}$/SiO$_{2}$- и SiN$_{x}$/SiО$_{2}$/SiN$_{x}$/SiО$_{2}$-мембран показано определение диаметра мембраны и толщин составляющих слоев. Использованы методы спектральной эллипсометрии, рентгеновского энергодисперсионного микроанализа, оптической профилометрии и оптической микроскопии. Показано влияние особенностей условий закрепления мембран на их напряженно-деформированное состояние, проведена оценка посредством численного моделирования. Разработана методика измерений и расчета механических характеристик мембран, имеющих начальный прогиб. Результат расчета показан на примере мембраны с начальным прогибом 2 $\mu$m – SiN$_{x}$/SiО$_{2}$/SiN$_{x}$/SiО$_{2}$ и мембраны с начальным прогибом 30 $\mu$m – Al/SiO$_{2}$/Al.

Ключевые слова: тонкие пленки, мембрана, дефект, механические характеристики, механические напряжения, деформация, модуль Юнга, модуль упругости, прогиб, микроэлектромеханические системы, МЭМС, круглая мембрана, кремниевая подложка, оптическая профилометрия, избыточное давление.

Поступила в редакцию: 26.04.2021
Исправленный вариант: 26.04.2021
Принята в печать: 26.04.2021

DOI: 10.21883/JTF.2021.10.51357.121-21



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024