А. А. Богданов, Ю. В. Тубольцев, Ю. В. Чичагов, Е. Е. Холупенко, А. М. Красильщиков, “Температурная зависимость чувствительности кремниевых фотоумножителей в режиме пофотонной регистрации ультрафиолетового излучения”, ЖТФ, 2021, том 91, выпуск 5,страницы 821

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Твердотельная электроника

Температурная зависимость чувствительности кремниевых фотоумножителей в режиме пофотонной регистрации ультрафиолетового излучения

А. А. Богданов, Ю. В. Тубольцев, Ю. В. Чичагов, Е. Е. Холупенко, А. М. Красильщиков

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: В контексте разработки новой детектирующей камеры для черенковского гамма-телескопа TAIGA-IACT экспериментально исследованы температурные зависимости темнового счета и эффективности пофотонной регистрации двух кремниевых лавинных фотодетекторов ультрафиолетового излучения: OnSemi/SensL MicroFJ-60035 и Hamamatsu VUV4 S13371-6050CQ-02 на длине волны 277 nm. Показано, что основные характеристики указанных детекторов соответствуют заявленным производителями. Разработаны и протестированы схемы съема сигнала. Сделаны выводы о применимости таких детекторов в регистрирующих камерах черенковских гамма-телескопов.

Ключевые слова: SIPM, кремниевые фотоумножители, PDE, темновой счет, ультрафиолетовое излучение, TAIGA-IACT, front-end electronics.

Поступила в редакцию: 15.09.2020
Исправленный вариант: 18.11.2020
Принята в печать: 18.11.2020

DOI: 10.21883/JTF.2021.05.50695.270-20