RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2021, том 91, выпуск 2, страницы 352–357 (Mi jtf5090)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Физическая электроника

Профильный анализ пленок ферритов-гранатов методом оптической эмиссионной спектроскопии тлеющего разряда

А. А. Федоренко, В. Н. Бержанский, А. В. Каравайников, А. Н. Шапошников, А. Р. Прокопов

Крымский федеральный университет имени В. И. Вернадского, г. Симферополь

Аннотация: Представлены результаты экспериментов по применению метода оптической эмиссионной спектроскопии тлеющего разряда для профильного анализа вакуумно-осажденных одно- и двуслойных пленок многокомпонентных ферритов-гранатов различного состава до и после кристаллизационного отжига. Выявлено наличие внутренних и внешних переходных слоев, и исследована модификация их элементного состава при кристаллизации и различной последовательности синтеза отдельных компонент в феррит-гранатовых гетероструктурах.

Ключевые слова: оптическая эмиссионная спектроскопия тлеющего разряда, профильный анализ, пленки ферритов-гранатов.

Поступила в редакцию: 24.05.2020
Исправленный вариант: 19.08.2020
Принята в печать: 21.08.2020

DOI: 10.21883/JTF.2021.02.50372.187-20


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2021, 66:2, 343–348

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024