RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2020, том 90, выпуск 12, страницы 1971–1994 (Mi jtf5116)

Эта публикация цитируется в 29 статьях

Обзоры

Механизмы возникновения напряжений в тонких пленках и покрытиях

А. Р. Шугуров, А. В. Панин

Институт физики прочности и материаловедения СО РАН, Томск, Россия

Аннотация: Проведен анализ литературных данных, посвященных причинам развития механических напряжений в эпитаксиальных, поликристаллических и аморфных пленках в процессе их формирования и при различных внешних воздействиях. Описан механизм возникновения внутренних напряжений при гетероэпитаксиальном росте пленок, обусловленных несоответствием постоянных кристаллических решеток пленки и подложки. Показана взаимосвязь между развитием напряжений несоответствия в гетероэпитаксиальных пленках и изменением характера их роста. Рассмотрены модели возникновения сжимающих и растягивающих напряжений в поликристаллических пленках вследствие формирования и коалесценции островков на начальной стадии их роста. Обсуждаются закономерности эволюции внутренних напряжений в сплошных пленках в зависимости от условий их осаждения, а также их химического состава, структуры и механических свойств. Рассмотрены механизмы развития внутренних напряжений в тонких пленках, связанных с образованием в них точечных дефектов, внедрением примесей и фазовыми превращениями, происходящими в процессе осаждения. Подробно рассмотрены внешние факторы, приводящие к возникновению напряжений в тонких пленках в процессе их хранения и эксплуатации.

Ключевые слова: тонкие пленки, покрытия, напряжения, дефекты.

Поступила в редакцию: 31.01.2020
Исправленный вариант: 25.03.2020
Принята в печать: 03.05.2020

DOI: 10.21883/JTF.2020.12.50112.38-20


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2020, 65:12, 1881–1904

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024