Пространственные характеристики сверхпроводников и 3D-холловский микроскоп для их исследования

На основе преобразователей Холла разработан растровый микроскоп с площадью обзора 5 $\times$ 5 mm и с его помощью с высокими пространственным разрешением и чувствительностью измерена топология магнитного поля $B(X,Y,Z)$ на поверхности и вокруг образцов YBa$_{2}$Cu$_{3}$O$_{7-x}$ и Bi$_{2}$Sr$_{2}$CaCu$_{2}$O$_{8+x}$ без применения формул электродинамики. Дифференциальная методика с фиксацией начала и конца перемещения датчика обеспечивала точность сканирования по осям $XY, Z\sim$10 и $\sim$1 $\mu$m соответственно в грубом и плавном диапазонах. Максимальный размер перемещения по оси $Z$ составлял 25 mm. Для устранения ошибок измерения нормированные распределения $B(Z)/B^{max}$(0) были экстраполированы к оси ординат, смещенной по оси $Z$ на величину зазора между поверхностью образца и преобразователем Холла.