RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2020, том 90, выпуск 11, страницы 1843–1849 (Mi jtf5150)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

XXIV Международный симпозиум Нанофизика и наноэлектроника, Нижний Новгород, 10--13 марта 2020 г.
Физическое материаловедение

Методы атомно-силовой микроскопии для исследования суперпротонных кристаллов

Р. В. Гайнутдинов, А. Л. Толстихина, Е. В. Селезнева, И. П. Макарова

Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН, Москва, Россия

Аннотация: Проведены комплексные исследования новых кристаллов-суперпротоников – кислых солей сульфата калия-аммония (K$_{1-x}$(NH$_4$)$_{x}$)$_{3}$H(SO$_4$)$_{2}$, $x\ge$ 0.57. Методами атомно-силовой микроскопии получены данные о морфологии поверхности, доменной структуре и проводимости образцов. Впервые стабильность и деградация поверхности суперпротонных кристаллов изучена на наноуровне. На основе данных микроскопии пьезоэлектрического отклика установлено, что при понижении температуры от 296 до 282 K кристалл (K$_{0.43}$(NH$_4$)$_{0.57}$)$_{3}$H(SO$_4$)$_{2}$ переходит из пара- в сегнетоэлектрическую фазу.

Ключевые слова: кристаллы-суперпротоники, пьезоэлектрический отклик, суперпротонный кристалл.

Поступила в редакцию: 03.04.2020
Исправленный вариант: 03.04.2020
Принята в печать: 03.04.2020

DOI: 10.21883/JTF.2020.11.49972.116-20


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2020, 65:11, 1760–1766

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024