RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2020, том 90, выпуск 11, страницы 1884–1892 (Mi jtf5157)

Эта публикация цитируется в 1 статье

XXIV Международный симпозиум Нанофизика и наноэлектроника, Нижний Новгород, 10--13 марта 2020 г.
Физика низкоразмерных структур

Микроструктура переходных границ в многослойных Мо/Ве-системах

Р. М. Смертинa, В. Н. Полковниковa, Н. Н. Салащенкоa, Н. И. Чхалоa, П. А. Юнинa, А. Л. Тригубb

a Институт физики микроструктур РАН, г. Нижний Новгород
b Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт", г. Москва

Аннотация: Методами рентгеновской рефлекто- и дифрактометрии и EXAFS-спектроскопии исследована микроструктура Мо/Ве многослойных периодических систем. Установлено, что в Мо/Ве-системе на границах образуются перемешанные зоны разного состава. На границе Мо-на-Ве – перемешанная зона, схожая по составу с МоВе$_{22}$, а на границе Ве-на-Мо – с МоВе$_{2}$. В результате термического отжига в течение 1 h структура переходных границ в многослойной системе остается стабильной. При дальнейшем отжиге происходят диффузионные процессы, которые приводят к образованию другого соединения на границе раздела – МоВе$_{2}$ вместо МоВе$_{22}$, однако период структуры при этом остается неизменным. Такое поведение объясняет рост коэффициента отражения Мо/Ве-зеркал после отжига в течение 1 h и дальнейшее падение коэффициента отражения при большем времени отжига.

Ключевые слова: многослойные зеркала, EXAFS-спектроскопия, межслоевые области, термическая стабильность, рентгеновское излучение.

Поступила в редакцию: 22.04.2020
Исправленный вариант: 22.04.2020
Принята в печать: 22.04.2020

DOI: 10.21883/JTF.2020.11.49979.142-20


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2020, 65:11, 1800–1808

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025