RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2020, том 90, выпуск 10, страницы 1724–1730 (Mi jtf5186)

Физическое материаловедение

Рентгеноструктурное исследование аморфно-кристаллического фазового перехода в Ni

Д. Ю. Ковалев, И. И. Чуев

Институт структурной макрокинетики и проблем материаловедения РАН

Аннотация: Методом высокотемпературной рентгенографии получены систематические данные о аморфно-кристаллическом переходе в Ni. Установлено, что аморфная структура наноразмерных частиц Ni стабильна до температуры 200$^\circ$C. В температурном интервале 300–600$^\circ$C происходит образование нанокристаллов Ni, размер областей когерентного рассеяния которых составляет 5–15 nm в зависимости от температуры изотермического отжига. Выполнена оценка величины энергии активации роста нанокристаллов, составившая 67.3 kJ/mol. Установлена зависимость параметра элементарной ячейки нанокристаллического Ni от размера ОКР. С увеличением ОКР у нанокристаллических частиц Ni наблюдается рост метрики ячейки.

Ключевые слова: аморфный Ni, кристаллизация, области когерентного рассеяния, температурная рентгенография.

Поступила в редакцию: 31.01.2020
Исправленный вариант: 24.04.2020
Принята в печать: 24.04.2020

DOI: 10.21883/JTF.2020.10.49805.37-20


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2020, 65:10, 1652–1658

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024