Аннотация:
Методом высокотемпературной рентгенографии получены систематические данные о аморфно-кристаллическом переходе в Ni. Установлено, что аморфная структура наноразмерных частиц Ni стабильна до температуры 200$^\circ$C. В температурном интервале 300–600$^\circ$C происходит образование нанокристаллов Ni, размер областей когерентного рассеяния которых составляет 5–15 nm в зависимости от температуры изотермического отжига. Выполнена оценка величины энергии активации роста нанокристаллов, составившая 67.3 kJ/mol. Установлена зависимость параметра элементарной ячейки нанокристаллического Ni от размера ОКР. С увеличением ОКР у нанокристаллических частиц Ni наблюдается рост метрики ячейки.
Ключевые слова:аморфный Ni, кристаллизация, области когерентного рассеяния, температурная рентгенография.
Поступила в редакцию: 31.01.2020 Исправленный вариант: 24.04.2020 Принята в печать: 24.04.2020