RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2020, том 90, выпуск 9, страницы 1537–1545 (Mi jtf5211)

Эта публикация цитируется в 1 статье

III Международная конференция Физика -- наукам о жизни
Динамика биополимеров

Влияние концентрации амфифильных молекул неионогенного поверхностно-активного вещества на структуру и гелеобразование в водных дисперсиях

С. А. Алексеева, И. В. Баранец, В. Н. Береснев, Т. А. Надервель, А. Д. Крючков, Т. Е. Суханова

Научно-исследовательский институт синтетического каучука имени академика С. В. Лебедева, Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: Методами вискозиметрии, термогравиметрического анализа, ИК-спектроскопии, фазово-контрастной и поляризационной оптической микроскопии проведено исследование структуры и морфологии водных дисперсий, процесса гелеобразования и межмолекулярных взаимодействий молекул воды с неионогенным низкомолекулярным поверхностно-активным веществом Синтанол АЛМ-10 во всем диапазоне концентраций (от 0 до 100 weight %). Обнаружен полиморфизм и полидисперсность мицелл Синтанола АЛМ-10. Определен механизм гелеобразования в водных дисперсиях, содержащих от 40 до 70 weight % амфифильных молекул. Обнаружено, что увеличение концентрации в дисперсиях Синтанола АЛМ-10 сопровождается сначала появлением обратных мицелл поверхностно-активного вещества, затем — последовательным чередованием лиотропных мезофаз, обладающих гексагональной симметрией, и новых форм связанной воды, обусловленных образованием клатратных гидратов. При этом вязкость системы существенно возрастает. При высоких концентрациях Синтанола АЛМ-10 (более 70 weight %) наблюдаются главным образом обратные мицеллы.

Ключевые слова: неионогенное поверхностно-активное вещество, Синтанол АЛМ-10, мицеллы, гелеобразование, поляризационная микроскопия, вискозиметрия, термогравиметрический анализ, ИК-спектроскопия, водные дисперсии, связанная вода.

Поступила в редакцию: 09.01.2020
Исправленный вариант: 09.01.2020
Принята в печать: 17.02.2020

DOI: 10.21883/JTF.2020.09.49687.2-20


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2020, 65:9, 1475–1483

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024