RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2020, том 90, выпуск 8, страницы 1359–1365 (Mi jtf5239)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Физическая электроника

Сканирующая туннельная микроскопия поверхности нанопленок иттербия и адсорбированных на ней слоев молекул кислорода

М. В. Кузьмин, М. А. Митцев

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: С помощью сканирующей туннельной микроскопии впервые исследованы поверхности структур Yb–Si(111) и O–Yb–Si(111) (толщина нанопленок иттербия в них составляет 16 монослоев (6.08 nm) ) и получены сведения о морфологии и фазовом составе этих поверхностей. Установлено, что до адсорбции кислорода нанопленки имеют высокую степень однородности по толщине, растут по механизму, очень близкому к послойном, и имеют однородную кристаллическую структуру. После адсорбции кислорода образуется островковый слой молекул кислорода, высота которого составляет 0.112 nm. Показано, что морфология нанопленки на тех участках ее поверхности, которые покрыты мономолекулярной пленкой кислорода, существенно изменяется. В то же время морфология участков поверхности, незанятых адсорбированным слоем, остается неизменной.

Ключевые слова: нанопленки, адсорбированные молекулы, поверхность, морфология, сканирующая туннельная микроскопия.

Поступила в редакцию: 11.03.2020
Исправленный вариант: 11.03.2020
Принята в печать: 12.03.2020

DOI: 10.21883/JTF.2020.08.49548.81-20


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2020, 65:8, 1307–1312

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024