RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2020, том 90, выпуск 6, страницы 895–899 (Mi jtf5274)

Атомная и молекулярная физика

Сечения образования ионов He$^{+}$ в различных электронных состояниях при столкновениях ионов He$^{2+}$ с атомами водорода

А. А. Басалаевa, В. В. Кузьмичевab, М. Н. Пановa, О. В. Смирновa

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого

Аннотация: Методом столкновительной спектроскопии, основанном на прецизионном измерении кинетической энергии ионов-снарядов, захвативших электрон, измерены парциальные сечения образования ионов He$^{+}(n)$ в определенных электронных состояниях в процессе захвата электрона ионами $^{3}$He$^{2+}$ с энергией $E$ = 1.4–10 keV/a.m.u. у атомов водорода. Создана мишень атомарного водорода со степенью диссоциации 78% при температуре вольфрамовой ячейки диссоциации 2180 K.

Ключевые слова: захват электрона, столкновительная спектроскопия, сечения образования ионов в определенных электронных состояниях, атомарный водород.

Поступила в редакцию: 28.05.2019
Исправленный вариант: 21.10.2019
Принята в печать: 05.11.2019

DOI: 10.21883/JTF.2020.06.49273.215-19


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2020, 65:6, 855–859

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024