Модификация структуры градиентных покрытий Ti–Al–Si–Cu–N при механических испытаниях

С использованием темнопольного электронно-микроскопического метода анализа изгиба-кручения кристаллической решетки выполнено исследование структурного состояния в зонах индентирования и скрэтч-тестирования градиентных покрытий Ti–Al–Si–Cu–N. Установлено, что для модификации структуры покрытия значимы прочностные свойства подложки, определяющие степень пластической релаксации приложенной нагрузки. Для материала под вершиной индентора найдены увеличение изгиба кристаллической решетки относительно недеформированного состояния, неоднородность и анизотропия его значений относительно точки и оси приложения нагрузки. Показано формирование полос локализованной деформации, в которых наблюдается рост размеров кристаллов, уменьшение изгиба кристаллической решетки и остаточных локальных напряжений.