RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2020, том 90, выпуск 3, страницы 471–477 (Mi jtf5366)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Электрофизика, электронные и ионные пучки, физика ускорителей

Диагностика пучков заряженных частиц методом фазовых диаграмм

В. В. Лукашевич

Петербургский институт ядерной физики им. Б.П. Константинова, Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт"

Аннотация: Для определения качества фокусировки заряженных частиц в ионно-оптических устройствах предложено использовать метод фазовых диаграмм. Фазовые диаграммы с нелинейными контурами указывают на нелинейность фокусировки пучка частиц, причем наглядно наблюдается величина апертуры, при которой появляется и усиливается нелинейность. Это открывает возможность проектирования линейно фокусирующих линз или корректоров аберраций, компенсирующих нелинейности оптики.

Ключевые слова: ионная оптика, эмиттанс, линзы, фазовая диаграмма, аберрации.

Поступила в редакцию: 11.03.2019
Исправленный вариант: 19.09.2019
Принята в печать: 19.09.2019

DOI: 10.21883/JTF.2020.03.48934.90-19


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2020, 65:3, 450–456

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024