RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2020, том 90, выпуск 1, страницы 155–160 (Mi jtf5423)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Физическая электроника

Пробеги атомов водорода, дейтерия, гелия в аморфных кремнии и вольфраме

Д. С. Мелузова, П. Ю. Бабенко, А. П. Шергин, А. Н. Зиновьев

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Получены распределения пробегов для атомов H, D, He с энергиями в диапазоне 0.1–100 keV в аморфных W и Si для нормального падения налетающих частиц. Расчеты проведены как в приближении парных соударений, так и более точным методом расчета траекторий частиц. Показано, что результаты обоих методов хорошо согласуются между собой и с экспериментальными данными по средним пробегам для системы H–Si. Оценено влияние притягивающей ямы в потенциале взаимодействия налетающей частицы с атомами твердого тела на результаты расчетов.

Ключевые слова: пробеги, вольфрам, кремний, аморфный.

Поступила в редакцию: 09.03.2019
Исправленный вариант: 07.06.2019
Принята в печать: 29.06.2019

DOI: 10.21883/JTF.2020.01.48678.89-19


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2020, 65:1, 145–150

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024