RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2019, том 89, выпуск 12, страницы 1917–1922 (Mi jtf5440)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Физическое материаловедение

Адаптация золь-гель технологии наноструктурированного оксида цинка для целей гибкой электроники

И. А. Аверинa, И. А. Пронинab, Н. Д. Якушоваa, А. А. Кармановa, Е. А. Алимоваc, С. Е. Игошинаa, В. А. Мошниковb, Е. И. Теруковbd

a Пензенский государственный университет
b Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В. И. Ульянова (Ленина)
c АО "Научно-исследовательский институт электронно-механических приборов", Пенза, Россия
d Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Проанализирована возможность замены классической для золь-гель методов операции высокотемпературного отжига операцией фотоотжига с использованием излучения ультрафиолетового диапазона длин волн. Предложена методика синтеза иерархически организованных пленок оксида цинка в рамках золь-гель технологии, основанная на параллельном совмещении низкотемпературной обработки и УФ-фотоотжига. Проведены спектроскопические исследования качественного состава пленкообразующего золя и наноматериалов на его основе, полученных на различных типах подложек, до и после инициации фотохимических реакций.

Ключевые слова: оксид цинка, фотоотжиг, золь-гель технология, гибкая электроника.

Поступила в редакцию: 04.06.2019
Исправленный вариант: 04.06.2019
Принята в печать: 10.06.2019

DOI: 10.21883/JTF.2019.12.48492.227-19


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2019, 64:12, 1821–1826

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024