RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2019, том 89, выпуск 11, страницы 1669–1673 (Mi jtf5456)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

XXIII Международный симпозиум Нанофизика и наноэлектроника, Нижний Новгород, 11-14 марта 2019 г.

Исследование резистивного переключения нестационарными сигналами в пленках ZrO$_{2}$(Y) методом атомно-силовой микроскопии

Д. О. Филатов, М. Н. Коряжкина, Д. А. Антонов, И. Н. Антонов, Д. А. Лискин, М. А. Рябова, О. Н. Горшков

Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского

Аннотация: Методом атомно-силовой микроскопии с проводящим зондом изучено локальное резистивное переключение в пленках стабилизированного диоксида циркония на проводящих подложках при переключении сложными нестационарными сигналами. Переключение сопротивления пленок осуществлялось треугольными импульсами напряжения, на которые накладывался высокочастотный синусоидальный сигнал. Обнаружено увеличение отношения силы тока через контакт зонда к поверхности пленки в высокоомном и низкоомном состояниях при наложении синусоидального сигнала (по сравнению с переключением простыми треугольными импульсами). Обнаружено также увеличение временной стабильности силы тока в указанных состояниях при переключении с наложением синусоидального сигнала. Эффект связан с резонансной активацией миграции ионов кислорода по вакансиям в переменном внешнем электрическом поле.

Ключевые слова: мемристор, резистивное переключение, атомно-силовая микроскопия, стабильность, резонансная активация.

Поступила в редакцию: 28.03.2019
Исправленный вариант: 28.03.2019
Принята в печать: 15.04.2019

DOI: 10.21883/JTF.2019.11.48326.127-19


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2019, 64:11, 1579–1583

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024