RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2019, том 89, выпуск 8, страницы 1233–1237 (Mi jtf5542)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Твердотельная электроника

Сравнительный анализ характеристик термофотовольтаических преобразователей на основе структур $p$-InAsSbP/$n$-InAs, облучаемых со стороны $p$- и $n$-типа проводимости

Б. А. Матвеевa, В. И. Ратушныйb, А. Ю. Рыбальченкоb

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Волгодонский инженерно-технический институт – филиал Национального исследовательского ядерного университета МИФИ

Аннотация: Проведено моделирование основных характеристик термофотовольтаических преобразователей, выполненных на основе гетероструктур $p$-InAsSbP/$n$-InAs в конструкциях с контактом ограниченной площади к облучаемому слою $p$-InAsSbP и флип-чип с вводом излучения через свободную от контактов поверхность подложки $n^{+}$-InAs. Показано влияние особенностей конструкции на температуру активной области и на эффективность преобразователя.

Ключевые слова: термофотовольтаический преобразователь, гетероструктуры InAsSbP/InAs, флип-чип, тепловой режим.

Поступила в редакцию: 09.10.2018
Исправленный вариант: 27.01.2019
Принята в печать: 19.02.2019

DOI: 10.21883/JTF.2019.08.47897.355-18


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2019, 64:8, 1164–1167

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024