RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 1987, том 57, выпуск 2, страницы 316–321 (Mi jtf569)

Дефектообразование в GaAlSb/GaSb структурах для фотодиодов

Т. С. Аргунова, А. Н. Баранов, Б. Е. Джуртанов, Г. Н. Мосина, И. Л. Шульпина, Ю. П. Яковлев

Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе АН СССР, Ленинград

Аннотация: Методами рентгеновской топографии и просвечивающей электронной микроскопии изучалось дефектообразование в гетероструктурах GaAlSb/GaSb полученных жидкостной эпитаксией. Выявлены особенности формирования сетки дислокаций несоответствия (ДН) при использовании подложек, отличающихся легированием и плотностью ростовых дислокаций. Обсуждаются причины обнаруженных особенностей и предлагаются рекомендации по совершенствованию получения таких гетероструктур.

УДК: 535.376.2

Поступила в редакцию: 04.12.1985



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024