RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2018, том 88, выпуск 8, страницы 1224–1228 (Mi jtf5845)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Физика низкоразмерных структур

Влияние температуры отжига на микроструктуру и морфологию пленок TiN, синтезированных методом дуального магнетронного распыления

С. В. Зайцев, В. С. Ващилин, Д. С. Прохоренков, М. В. Лимаренко, Е. И. Евтушенко

Белгородский государственный технологический университет имени В. Г. Шухова

Аннотация: Пленки TiN, синтезированные на подложках лейкосапфира методом дуального магнетронного распыления, подвергли последующему отжигу в вакууме при 600, 700, 800 и 900$^\circ$C в течение 2 min. Микроструктуру и морфологию пленок при различных температурах исследованы методами рентгеновской дифракции и сканирующей электронной микроскопии. Установлено, что отжиг влияет на изменения в микроструктуре, текстуре, размере зерна и шероховатости пленок TiN.

Поступила в редакцию: 03.03.2017
Исправленный вариант: 13.02.2018

DOI: 10.21883/JTF.2018.08.46313.2234


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2018, 63:8, 1189–1193

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024