Моделирование некоторых свойств изображений с атомарным разрешением в сканирующем зондовом микроскопе

Разработана методика моделирования изображений в сканирующем зондовом микроскопе (СЗМ) с одновременным применением вейвлет-преобразования и медианной фильтрации. В работе использовалось вейвлет-преобразование с ядром Добеши 4-го порядка. Данное преобразование позволяет выделять на СЗМ-изображениях детали различных масштабов, что дает возможность исследовать фрактальные свойства поверхностей. С помощью моделирования показано, что сверхвысокое разрешение в СЗМ может соответствовать атомарному, если размеры контактной области в системе “зонд-образец” намного превышает атомные размеры, а также имеется случайный разброс в расположении атомов решетки. Дано объяснение явлению инверсии контраста на СЗМ-изображениях в режиме многократного сканирования.