Аннотация:
Исследованы электрические и оптические свойства тонких пленок Cu$_{2}$ZnSnS$_{4}$, Cu$_{2}$FeSnS$_{4}$ и Cu$_{2}$MnSnS$_{4}$$p$-типа электропроводности, изготовленных методом спрей-пиролиза при температуре $T_{S}$ = 290$^\circ$C с использованием 0.1 М водных растворов солей CuCl$_{2}\cdot$2H$_{2}$O, ZnCl$_{2}\cdot$2H$_{2}$O, MnCl$_{2}\cdot$2H$_{2}$O, FeCl$_{3}\cdot$6H$_{2}$O, SnCl$_{4}\cdot$5H$_{2}$O и (NH$_{2}$)CS. На основе анализа электрофизических свойств пленок с использованием модели энергетических барьеров на границах зерен в поликристаллических материалах определены энергетические параметры и оценена толщина межкристаллитных границ. Установлена степень влияния концентрации дырок $p_{0}$ в объеме кристаллитов и высоты энергетических барьеров $E_{b}$ между зернами на величину электропроводности. По результатам исследований спектральных зависимостей коэффициента поглощения определена оптическая ширина запрещенной зоны тонких пленок соединений Cu$_{2}$Zn(Fe,Mn)SnS$_{4}$.
Поступила в редакцию: 09.07.2015 Исправленный вариант: 23.08.2017