Определение субпиксельных микросмещений спекл-структуры методом фазового сдвига поля пространственного спектра

Предложен и экспериментально реализован метод измерения субпиксельных микросмещений спекл-структуры, основанный на определении параметров линейного фазового набега, образующегося в поле комплексного пространственного спектра смещенной спекл-структуры, путем численного введения дополнительного фазового сдвига спектра и корреляционного анализа возникающего смещения линейного фазового набега в пространственном спектре спеклограммы. Метод позволяет расширить диапазон измерений, производимых с помощью метода цифровой спекл-фотографии, для случая, когда период интерференционных полос, формируемых в суммарном пространственном спектре спеклограмм, оказывается существенно больше ширины спектра.