RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2016, том 86, выпуск 9, страницы 136–140 (Mi jtf6457)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Физическая электроника

Исследование дисилицида железа методами электронной спектроскопии

А. С. Паршинa, А. Ю. Игуменовa, Ю. Л. Михлинb, О. П. Пчеляковac, В. С. Жигаловad

a Сибирский государственный аэрокосмический университет имени академика М. Ф. Решетнева
b Институт химии и химической технологии СО РАН, г. Красноярск
c Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, г. Новосибирск
d Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН, г. Красноярск

Аннотация: Представлены результаты комплексного исследования дисилицида железа FeSi$_{2}$ методами спектроскопии характеристических потерь энергии электронов, сечения неупругого рассеяния электронов и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Показано, что основной пик в спектрах сечения неупругого рассеяния электронов FeSi$_{2}$ представляет собой суперпозицию двух неразрешенных пиков – поверхностного и объемного плазмонов. Исследование тонкой структуры спектров сечения неупругого рассеяния электронов посредством их разложения на лоренцево-подобные пики Тоугаарда позволило количественно оценить вклады отдельных процессов потерь энергии в результирующий спектр, определить их природу и энергии.

Поступила в редакцию: 26.10.2015


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2016, 61:9, 1418–1422

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024