RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2016, том 86, выпуск 7, страницы 124–129 (Mi jtf6510)

Эта публикация цитируется в 6 статьях

Физическая электроника

Атомно-силовая микроскопия субмикронных пленок электроактивного полимера

Д. Д. Карамовab, В. М. Корниловa, А. Н. Лачиновab, В. А. Крайкинc, И. А. Ионоваc

a Башкирский государственный педагогический университет им. М. Акмуллы, г. Уфа
b Уфимский научный центр РАН
c Уфимский институт химии Уфимского федерального исследовательского центра РАН

Аннотация: Методами атомно-силовой микроскопии исследована надмолекулярная структура субмикронных пленок электроактивного термостойкого полимера полидифениленфталида (ПДФ). Установлено, что пленки ПДФ, полученные методом центрифугирования, являются сплошными и однородными вплоть до толщин в несколько нанометров, что соответствует двум-трем мономолекулярным слоям. Обнаружено, что объем пленки структурирован при толщинах выше 100 nm. Исследования реологических свойств растворов, из которых отливались пленки, позволили обнаружить точку кроссовера, разделяющую области сильно разбавленных и полуразбавленных растворов. В пленках, отлитых из растворов пограничной концентрации, удалось пронаблюдать переход от глобулярной структуры к структуре ассоциатов. Обсуждена модель формирования полимерной пленки, обусловленная наличием ассоциатов в исходном растворе.

Поступила в редакцию: 02.07.2015


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2016, 61:7, 1085–1090

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024