RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2016, том 86, выпуск 5, страницы 107–111 (Mi jtf6559)

Эта публикация цитируется в 16 статьях

Физика низкоразмерных структур

Изменение иммитанса при электроформовке и резистивном переключении в мемристивных структурах “металл–диэлектрик–металл” на основе SiO$_{x}$

С. В. Тихов, О. Н. Горшков, И. Н. Антонов, А. П. Касаткин, Д. С. Королев, А. И. Белов, А. Н. Михайлов, Д. И. Тетельбаум

Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского

Аннотация: Для мемристивных структур “металл–диэлектрик–металл” на основе SiO$_{x}$ установлены изменения иммитанса при электроформовке и резистивном переключении, которые подтверждают образование проводящих каналов (филаментов) в диэлектрике при формовке и их прерывание при переходе структуры в состояние с высоким сопротивлением. Обнаружено переключение дифференциальной емкости и проводимости, синхронное с переключением тока (сопротивления), которое может существенно расширить функциональные применения мемристивных устройств данного типа.

Поступила в редакцию: 17.03.2015


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2016, 61:5, 745–749

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024