RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2024, том 94, выпуск 2, страницы 261–266 (Mi jtf6711)

Физика низкоразмерных структур

Изменение сопротивления тонких пленок Bi$_2$Se$_3$ и гетероструктур Bi$_2$Se$_3$ на графене при растягивающих деформациях

Н. А. Небогатиковаa, И. В. Антоноваab, Р. А. Соотсa, К. А. Кохc, Е. С. Климоваc, В. А. Володинad

a Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, 630090 Новосибирск, Россия
b Новосибирский государственный технический университет, 630087 Новосибирск, Россия
c Институт геологии и минералогии им. В. С. Соболева СО РАН, 630058 Новосибирск, Россия
d Новосибирский государственный университет, 630090 Новосибирск, Россия

Аннотация: Создание вертикальных гетероструктур Bi$_2$Se$_3$ на графене, полученных методом физического осаждения из газовой фазы, приводит не только к более совершенной структуре и проводимости слоя Bi$_2$Se$_3$, но и к улучшению механических свойств. Пленки Bi$_2$Se$_3$ с толщиной 20–40 nm на CVD-графене слабо меняли свое сопротивление при растягивающих деформациях, создаваемых при изгибе структур. Было установлено, что сопротивление возрастает всего на 20–30% при растяжении до 3.3%. При выращивании Bi$_2$Se$_3$ на слое напечатанного графена сформирована неоднородная по площади и толщине пленка Bi$_2$Se$_3$, трескающаяся при деформации более 1.5%.

Ключевые слова: вертикальные гетероструктуры, Bi$_2$Se$_3$ на графене, растягивающие деформации, изменение сопротивления.

Поступила в редакцию: 13.11.2023
Исправленный вариант: 08.12.2023
Принята в печать: 18.12.2023

DOI: 10.61011/JTF.2024.02.57081.281-23



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025