RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2023, том 93, выпуск 3, страницы 350–355 (Mi jtf6952)

Плазма

Определение плотности электронов в аргоновой струе диэлектрического барьерного разряда с помощью СВЧ волноводного фильтра

М. С. Усачёнокa, Ю. С. Акишевb, А. В. Казакa, А. В. Петряковb, Л. В. Симончикa, В. В. Шкуркоc

a Институт физики им. Б. И. Степанова НАН Беларуси, 220072 Минск, Беларусь
b Троицкий институт инновационных и термоядерных исследований, 108840 Москва, Троицк, Россия
c Университет НАН Беларуси, 220070 Минск, Беларусь

Аннотация: С помощью волноводного СВЧ фильтра определена плотность электронов в аргоновой плазменной струе диэлектрического барьерного разряда. Установлена динамика изменения плотности электронов в течение периода приложенного напряжения частотой около 100 kHz. Наблюдались 4 максимума средней концентрации, которые составляют около 10$^{13}$ cm$^{-3}$.

Ключевые слова: диэлектрический барьерный разряд, волноводный СВЧ фильтр, спектр пропускания, плотность электронов, плазменная струя.

Поступила в редакцию: 02.12.2022
Исправленный вариант: 17.01.2023
Принята в печать: 19.01.2023

DOI: 10.21883/JTF.2023.03.54845.265-22



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025