RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2023, том 93, выпуск 7, страницы 1059–1068 (Mi jtf7051)

XXVII Международный симпозиум ''Нанофизика и наноэлектроника'' Н. Новгород, 13-16 марта, 2023 г.
Физические приборы и методы эксперимента

Использование морфометрических величин при изучении рельефа поверхности рентгенооптических элементов

А. А. Дедковаab, И. В. Флоринскийb, А. К. Чернышевc

a Национальный исследовательский университет "МИЭТ", 124498 Зеленоград, Москва, Россия
b Институт математических проблем биологии РАН— филиал ИПМ им. М.В. Келдыша РАН, 142290 Пущино, Россия
c Институт физики микроструктур РАН, г. Нижний Новгород

Аннотация: Рассмотрено применение морфометрических величин (кривизны максимальной, минимальной, средней, топографического индекса и др.) при исследовании поверхности рентгенооптических элементов. Расчеты проведены на цифровых моделях рельефа сферических вогнутых подложек: изначальных и сглаженных цифровых моделях рельефа, до и после технологических обработок (механического притира, осесимметричной обработки, локальной обработки). Продемонстрирована наглядная визуализация слабовыраженных неоднородностей, в том числе не отображаемых на картах исходных цифровых моделей рельефа. Рассмотрение включало изучение как исследуемых образцов, так и погрешностей формирования цифровых моделей рельефа (артефактов от регистрирующей системы и от неоднородности среды), а также особенности масштабной декомпозиции при использовании универсального спектрально-аналитического метода.

Ключевые слова: поверхность, рельеф, цифровая модель рельефа, ЦМР, многоуровневый анализ, формообразование, асферизация, интерферометрия, рентгеновская оптика, многослойное интерференционное зеркало, кривизна, морфометрическая величина, геоморфометрия, дефект, артефакт измерений.

Поступила в редакцию: 13.04.2023
Исправленный вариант: 13.04.2023
Принята в печать: 13.04.2023

DOI: 10.21883/JTF.2023.07.55770.89-23



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025