Аннотация:
Методами лазерной эллипсометрии, оптического
отражения и спектральных зависимостей фоточувствительности изучены
свойства термического окисла, выращенного на тройном полупроводниковом
материале GuInSe$_{2}$ при температурах $300{-}610^{\circ}$С и временах
окисления ${5{-}5\cdot10^{2}}$ мин. Установлено образование
на поверхности исходной подложки слоя In$_{2}$O$_{3}$, исследованы
его однородность и динамика роста. Полученный слой может служить
просветляющим интерференционным покрытием, что позволяет реализовать
высокочувствительные гетеропереходы In$_{2}$O$_{3}$/CuInSe$_{2}$
с широкополосным или узкоселективным спектральным диапазоном фотоответа.
Обнаружена тонкая структура в спектрах фотопроводимости окисленных
кристаллов в глубине фундаментальной полосы поглощения CuInSe$_{2}$.
Проанализирована стабильность тройного материала по сравнению
с двойными халькогенидами меди.