RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 1987, том 57, выпуск 11, страницы 2192–2199 (Mi jtf983)

Рентгенооптические исследования характеристик многослойных структур

Ю. Я. Платонов, Н. И. Полушкин, Н. Н. Салащенко, А. А. Фраерман

Институт прикладной физики АН СССР, Горький

Аннотация: Рассмотрена методика определения следующих параметров реальных многослойных структур: средний период и соотношение толщин слоев в периоде; размытие границ слоев, обусловленное или межплоскостными шероховатостями, или взаимной диффузией материалов; дисперсия флуктуаций толщин пленок и реальные плотности материалов слоев. Методика основана на анализе угловой зависимости коэффициента отражения «жесткого» (${\lambda\sim1\div2}$ Å) рентгеновского излучения в области полного внешнего отражения и главных брэгговских максимумов. Применение методики иллюстрируется на примере исследования параметров многослойных рентгеновских зеркал на основе пары материалов Ni$-$С с помощью излучения ${\lambda(\text{Cu}\,K_{\alpha})=1.54}$ Å и экстраполяции свойств зеркал в область «мягкого» рентгеновского излучения. Результаты измерений коэффициентов отражений и селективности зеркал на длинах волн 17.6, 44.7 и 64.4 Å показали хорошее совпадение данных экстраполяции с экспериментом.

Поступила в редакцию: 01.07.1986



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024