RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Моделирование и анализ информационных систем // Архив

Модел. и анализ информ. систем, 2020, том 27, номер 3, страницы 316–329 (Mi mais718)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Computing methodologies and applications

Применение свёрточных нейронных сетей для распознавания длинных конструктивных элементов рельсов на вихретоковых дефектограммах

Е. В. Кузьминa, О. Е. Горбуновb, П. О. Плотниковb, В. А. Тюкинb, В. А. Башкинa

a Ярославский государственный университет им. П. Г. Демидова, ул. Советская, 14, г. Ярославль, 150003 Россия
b ООО «Центр инновационного программирования», NDDLab, ул. Союзная, 144, г. Ярославль, 150008 Россия

Аннотация: Для обеспечения безопасности движения на железнодорожном транспорте регулярно проводится неразрушающий контроль рельсов с применением различных подходов и методов, включая методы вихретоковой дефектоскопии. Актуальной задачей является автоматический анализ больших массивов данных (дефектограмм), которые поступают от соответствующего оборудования. Под анализом понимается процесс определения по дефектограммам наличия дефектных участков наряду с выявлением конструктивных элементов рельсового пути. Данная статья посвящена задаче распознавания образов длинных конструктивных элементов железнодорожных рельсов по дефектограммам многоканальных вихретоковых дефектоскопов. Рассматриваются два класса конструктивных элементов рельсового пути: 1) счётчики осей подвижного состава, 2) пересечения рельсовых путей. Длинные отметки, которые не могут быть отнесены к этим двум классам, условно считаются дефектами и выносятся в отдельный третий класс. Для распознавания образов конструктивных элементов на дефектограммах применяется свёрточная нейронная сеть, реализованная в рамках открытой библиотеки TensorFlow. С этой целью каждая выделенная для анализа область дефектограммы преобразуется в графический образ в градации серого цвета размером 30 на 140 точек.

Ключевые слова: неразрушающий контроль рельсов, вихретоковая дефектоскопия, обнаружение дефектов, автоматический анализ дефектограмм, нейронные сети.

УДК: 004.032.26

MSC: 68T07

Поступила в редакцию: 20.07.2020
Исправленный вариант: 03.08.2020
Принята в печать: 09.09.2020

DOI: 10.18255/1818-1015-2020-3-316-329



© МИАН, 2024