Измерительно-вычислительная система на базе оптического сканирующего микроскопа

Работа посвящена проблеме синтеза измерительно-вычислительных систем сверхвысокого разрешения (ИВС СВР). На примере оптического сканирующего микроскопа рассматриваются методы синтеза таких ИВС. Рассмотрены задачи синтеза оптимальных ИВС, в которых на ИВС синтезируется сигнал наилучшего прибора при заданном разрешении. Приведены зависимости значений погрешности от разрешения для случая оптимального синтеза и для случая, когда на ИВС синтезируется сигнал прибора аналогичного исходному. Описаны способы уменьшения погрешности синтеза путем привлечения разнообразной априорной информации о сигнале – диапазон изменения сигнала, гладкость и коррелированность сигнала, достоверно известные значения сигнала. Рассмотрена задача приборного синтеза при отсутствии априорной информации, для которой приведены примеры оперативных характеристик определяющих соотношение между уровнем шума и погрешностью синтеза. Даны рекомендации по изготовлению исходного прибора в случае, когда планируется его использование в составе ИВС.