Геометрическое моделирование структуры наноматериалов для тестирования методов сегментации изображений сканирующей зондовой микроскопии

Разработана методика формирования модельных изображений, которые используются для тестирования алгоритмов сегментации изображений сканирующей зондовой микроскопии. Трехмерная геометрическая модель наноматериалов является комбинацией объектов априорно выбранных форм и размеров с заданной степенью перекрытия. Реализована возможность деформации опорной поверхности модели для имитации крупномасштабной неровности образца реального наноматериала. Такой подход обеспечивает визуальный контроль по растровому изображению модели и предоставляет параметры для сравнительного анализа эффективности различных алгоритмов сегментации: количество распознаваемых фрагментов объектов, площадь фона и площадь каждого фрагмента в масштабе изображения.