RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Математические заметки // Архив

Матем. заметки, 2023, том 114, выпуск 3, страницы 458–463 (Mi mzm13812)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Краткие сообщения

О тестах относительно локальных константных неисправностей фиксированной кратности на входах схем

Г. В. Антюфеев, Д. С. Романовa

a Московский государственный университет им. М. В. Ломоносова

Ключевые слова: булева функция, проверяющий тест, диагностический тест, функция Шеннона, константные неисправности на входах схем.

MSC: 94C12, 94C11, 06E30

Поступило: 15.11.2022
Исправленный вариант: 18.03.2023

DOI: 10.4213/mzm13812


 Англоязычная версия: Mathematical Notes, 2023, 114:3, 397–402

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025