Генерация второй гармоники-суммарной частоты в тонком сферическом слое. II. Анализ диаграмм направленности

Проведен графический анализ решения задачи о генерации второй гармоники-суммарной частоты в тонком сферическом слое при его облучении двумя когерентными плоскими электромагнитными волнами с эллиптическими поляризациями и одинаковыми частотами. Определены асимметрии, количественно описывающие форму трехмерных диаграмм направленности (пространственное распределение плотности мощности излучения второй гармоники-суммарной частоты). Трехмерные диаграммы направленности и асимметрии проанализированы для различных комбинаций параметров: отношения комплексных амплитуд падающих волн, угла между волновыми векторами падающих волн (угла раскрытия), эллиптичности, ориентации эллипсов поляризации, размеров сферической частицы. Обнаружено, что при малых размерах частицы каждому типу анизотропии соответствует своя индивидуальная форма диаграммы направленности. Установлено, что для одного из типов анизотропии форма диаграммы направленности практически не изменяется при варьировании указанных выше параметров почти во всех возможных диапазонах.