Новый метод определения распределения плотности электронных состояний в хвосте валентной зоны аморфных твердых растворов Se$_{x}$S$_{1-x}$

Сопоставлены аналитическое выражение и экспериментальная кривая спектра экспоненциального поглощения аморфного селено-серного твердого раствора (Se$_{0.5}$S$_{0.5}$ и Se$_{0.7}$S$_{0.3}$). Параметры в аналитическом выражении спектра экспоненциального поглощения, определяющие кривизну экспоненциальных хвостов разрешенных зон, найдены путем аппроксимации экспериментальной кривой. Используя приближение Дэвиса–Мотта по формуле Кубо–Гринвуда для спектра экспоненциального поглощения получена новая формула, определяющая плотности электронных состояний в хвосте валентной зоны. С использованием этой формулы и экспериментально определенного спектра экспоненциального поглощения показана возможность определения плотности электронных состояний в хвосте валентной зоны.